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    Eswerden integrierte Schaltungschips beschrieben, die zu einer Selbstjustierungeiner internen Spannung des integrierten Schaltungschips fähig sind, sowieVerfahren zur Justierung der internen Spannung eines integriertenSchaltungschips. Die Verfahren umfassen das Vergleichen einer internerzeugten Spannung mit einer externen Sollspannung.
    公开号:DE102004010706A1
    申请号:DE200410010706
    申请日:2004-03-04
    公开日:2004-10-21
    发明作者:Gerd Dr. Frankowsky；Gunther Dr. Lehmann
    申请人:Infineon Technologies AG；
    IPC主号:G11C5-14
    专利说明:
    [0001] Dievorliegende Erfindung betrifft eine Anordnung zum Trimmen der durcheine integrierte Schaltung erzeugten internen Spannungen.
    [0002] Moderneintegrierte Schaltungschips, wie zum Beispiel DRAM-Chips (DynamischerSpeicher mit wahlfreiem Zugriff) weisen viele verschiedene Spannungenauf, die durch mehrere Generatoren auf dem Chip erzeugt werden müssen. Jederder Generatoren wird so hergestellt, dass er der integrierten Schaltungeine spezifische Spannung zuführt.Aufgrund von Schwankungen in dem Herstellungsprozess kann die vonjedem Generator bereitgestellte tatsächliche Spannung jedoch anfänglich außerhalb einesakzeptablen Bereichs variieren. Um diese Schwankungen zu korrigieren,werden die Spannungsgeneratoren auf integrierten Schaltungen häufig getrimmt,um eine interne Spannung innerhalb des akzeptablen Bereichs bereitzustellen.
    [0003] 1 zeigt ein herkömmlichesVerfahren zum Trimmen der Spannung eines Spannungsgenerators aufeinem integrierten Schaltungschip 100. Der integrierteSchaltungschip 100 enthälteinen Spannungsgenerator 102, eine Steuerung für einen Prüfmodus 104 undeinen Anschluss fürein Prüfgerät 106.Der Spannungsgenerator 102 erzeugt aus einer externen Spannung 110 eineinterne Spannung 108. Der Spannungsgenerator kann zum Beispieleinen Spannungsteiler oder eine Spannungspumpe enthalten, der bzw.die eine interne Spannung 108 erzeugt, die kleiner odergrößer alsdie externe Spannung 110 ist. Die interne Spannung 108 kann über eineelektrische Verbindung 112 einer integrierten Schaltungzugeführtwerden. Die integrierte Schaltung kann zum Beispiel ein Speicherfeldenthalten. Die interne Spannung 108 wird außerdem über eineelektrische Verbindung 114 dem Anschluss für das Prüfgerät 106 zugeführt.
    [0004] Umdie interne Spannung zu trimmen, wird die interne Spannung 108 einemexternen Prüfgerät 118 zugeführt, indemzwischen dem externen Prüfgerät 118 unddem Anschluss fürdas Prüfgerät 106 eineelektrische Verbindung 116 hergestellt wird. Das externePrüfgerät 118 bestimmtden Wert der internen Spannung 108. Wenn die interne Spannung 108 getrimmtwerden muss, sendet das externe Prüfgerät 118 ein Prüfsignal 120 zuder Steuerung fürden Prüfmodus 104.Die Steuerung fürden Prüfmodus 104 übersetztdas Prüfsignal 120 inSteuersignale 122 zum Justieren des Spannungsgenerators 102.Die Justierungen an dem Spannungsgenerator 102 modifizierendie von dem Spannungsgenerator 102 erzeugte interne Spannung 108.
    [0005] Dieinterne Spannung 108 wird kontinuierlich modifiziert, bissie innerhalb eines vorher festgelegten Bereichs liegt. Wenn dieinterne Spannung in dem vorher festgelegten Bereich liegt, können diean dem Spannungsgenerator 102 zur Trimmung vorgenommenenJustierungen durch entsprechendes Programmieren des Status der Steuersignaleauf der integrierten Schaltung permanent gemacht werden. Eine permanenteProgrammierung kann zum Beispiel durch Setzen nichtflüchtigerSpeicherelemente, die auf der integrierten Schaltung angeordnetsind, erreicht werden. Zu diesen Speicherelementen können zumBeispiel Laserschmelzelemente gehören (d.h. Schmelzelemente,die durch einen externen Laserstrahl programmiert werden) oder elektri sche Schmelzelemente,die durch ein elektrisches Signal programmiert werden.
    [0006] Beidem herkömmlichenVerfahren zum Trimmen der internen Spannung eines integrierten Schaltungschipsmisst man mit einem externen Prüfgerät jede interneSpannung und leitet diese Informationen dann zu dem Chip zurück. Da dasexterne Prüfgerät typischerweisejede Spannung einzeln messen muss, ist es schwierig, gleichzeitigmehrere interne Spannungen zu trimmen, ohne ein kompliziertes externesPrüfgerät zu verwenden.Da moderne integrierte Schaltungschips wie DRAMS häufig mehrereinterne Spannungen aufweisen, ist eine Anordnung von Spannungsgeneratoren,die ein einfaches und effizientes gleichzeitiges Trimmen mehrererinterner Spannungen ermöglichenkann, wünschenswert.Außerdemsind bei dem herkömmlichen Verfahrendem gleichzeitigen Prüfenmehrerer integrierter Schaltungschips Grenzen gesetzt, weil das externePrüfgerät die Steuer-und Messsignale für mehrals einen Chip typischerweise nicht gemeinsam verwenden kann. JedeSpannung auf jedem Chip muss unabhängig gemessen werden. Fernermüssendie Informationen überdas Trimmen jedem Chip einzeln zugeführt werden. Folglich ist eineAnordnung von Spannungsgeneratoren wünschenswert, die das gleichzeitigeTrimmen mehrerer integrierter Schaltungschips ermöglicht,um die Effizienz des Trimmungsverfahrens zu erhöhen.
    [0007] Dievorliegende Erfindung betrifft integrierte Schaltungschips, diezu einer Selbstjustierung einer internen Spannung des integriertenSchaltungschips fähigsind, und Verfahren zum Einstellen der internen Spannung eines integriertenSchaltungschips.
    [0008] Beieiner Ausführungsformenthältder integrierte Schaltungschip einen Spannungsgenerator, der eineinterne Spannung erzeugt, einen Komparator zum Vergleichen einerextern zugeführtenSpannung mit der internen Spannung und eine Steuerschaltung, dieSignale zur Justierung der internen Spannung liefert.
    [0009] Vorzugsweiseenthältder integrierte Schaltungschip ein Speicherfeld. Vorzugsweise istdas Speicherfeld ein DRAM-Feld (Dynamischer Speicher mit wahlfreiemZugriff). Vorzugsweise liefert die Steuerschaltung Signale zur Justierungder internen Spannung nach Empfang eines Signals von dem Komparator,und nachdem die integrierte Schaltung ein Prüfsignal von einer externenQuelle empfangen hat.
    [0010] Vorzugsweiseist der Spannungsgenerator eine Spannungspumpe oder ein Spannungsteiler. Vorzugsweiseumfasst die Steuerschaltung eine Steuerung für einen eingebauten Selbsttest(BIST, "Built-InSelf-Test") wobeidie BIST-Steuerung die Schaltung aktiviert, während sie Signale zur Justierungder internen Spannung liefert.
    [0011] Beieiner anderen Ausführungsformenthält derintegrierte Schaltungschip mehrere Spannungsgeneratoren, mehrereKomparatoren zum Vergleichen extern zugeführter Spannungen mit durchdie Spannungsgeneratoren erzeugten Spannungen und eine Steuerschaltung,die Signale zur Justierung der durch die Spannungsgeneratoren erzeugtenSpannungen liefert. Vorzugsweise werden die durch die Spannungsgeneratorenerzeugten Spannungen durch Signale eingestellt, die von der Steuerschaltunggleichzeitig geliefert werden.
    [0012] Beieiner Ausführungsformumfasst das Verfahren zur Justierung einer internen Spannung eines integriertenSchaltungschips die folgenden Schritte: Liefern einer externen Spannungan einen Komparator auf dem integrierten Schaltungschip, Lieferneiner internen Spannung an den Komparator, Vergleichen der externenSpannung mit der internen Spannung und Einstellen der internen Spannungabhängigvon dem Vergleich zwischen der internen Spannung der externen Spannung.Vorzugsweise wird die interne Spannung eingestellt, wenn der integrierteSchaltungschip ein Prüfsignalvon einer externen Quelle empfängt.
    [0013] Eineweitere Ausführungsformist ein Verfahren zum Einstellen interner Spannungen eines integriertenSchaltungschips durch Liefern mehrerer externer Spannungen an mehrereKomparatoren auf einem integrierten Schaltungschip, Liefern mehrerer internerSpannungen an die Komparatoren, Vergleichen der externen Spannungenmit den internen Spannungen und Variieren der internen Spannungen abhängig vonden Vergleichen zwischen den internen Spannungen und den externenSpannungen.
    [0014] Eineweitere Ausführungsformist ein Verfahren zum Einstellen interner Spannungen mehrerer integrierterSchaltungschips durch Liefern einer externen Spannung an mehrereintegrierte Schaltungschips, Erzeugen mehrerer interner Spannungen,Vergleichen der externen Spannung mit den internen Spannungen undEinstellen der internen Spannungen abhängig von dem Vergleich zwischenden internen Spannungen und der externen Spannung. Vorzugsweisewerden die internen Spannungen eingestellt, wenn die integriertenSchaltungschips ein Prüfsignalvon einer externen Quelle empfangen, das den integrierten Schaltungschipszugeführtwird.
    [0015] DieErfindung wird durch Bezugnahme auf die ausführliche Beschreibung der Erfindungin Verbindung mit den beigefügtenZeichnungen besser verständlich.Es zeigen:
    [0016] 1 ein herkömmlichesVerfahren zum Trimmen der Spannung eines Spannungsgenerators aufeinem integrierten Schaltungschip;
    [0017] 2 eine Anordnung zur Selbsttrimmung einerSpannung zum Trimmen der Spannung eines Spannungsgenerators aufeinem integrierten Schaltungschip;
    [0018] 3 eine Anordnung zur Selbsttrimmung einerSpannung, bei dem mehrere Spannungsgeneratoren auf einem integriertenSchaltungschip gleichzeitig getrimmt werden;
    [0019] 4 eine Anordnung zur Selbsttrimmung einerSpannung, bei dem Spannungsgeneratoren auf einem integrierten Schaltungschipzur selben Zeit getrimmt werden und bei dem Kopplungseffekte zwischenden Spannungsgeneratoren berücksichtigt werden;und
    [0020] 5 eine Anordnung zur Selbsttrimmung einerSpannung, bei dem mehrere Spannungen auf mehreren integrierten Schaltungschipsgleichzeitig getrimmt werden.
    [0021] MitBezug auf 2 bis 5 werden Anordnungen vonselbstjustierenden Generatoren zum Trimmen der internen Spannungeneines integrierten Schaltungschips beschrieben. Die Anordnun genvon selbstjustierenden Generatoren ermöglichen es einem integriertenSchaltungschip, die durch einen oder mehrere Spannungsgeneratorengelieferte interne Spannung zu justieren, wenn eine externe Sollspannungbzw. Sollspannungen an den Chip angelegt werden.
    [0022] 2 zeigt eine Ausführungsformeiner Anordnung zur Selbstjustierung eines Generators zum Trimmender Spannung eines Spannungsgenerators auf einem integrierten Schaltungschip 200.Der integrierte Schaltungschip 200 enthält einen Spannungsgenerator 202,eine Steuerschaltung 204, eine Steuerung für einenPrüfmodus 206,einen Komparator 208 und einen Anschluss für ein Prüfgerät 210.Der Spannungsgenerator 202 erzeugt aus einer externen Spannung 212 eineinterne Spannung 214. Der Spannungsgenerator kann zum Beispieleinen Spannungsteiler oder eine Spannungspumpe enthalten, der bzw.die eine interne Spannung 214 erzeugt, die kleiner odergrößer alsdie externe Spannung 212 ist. Die interne Spannung 214 kann über elektrischeVerbindung 216 einer integrierten Schaltung zugeführt werden.Eine bevorzugte elektrische Schaltung ist ein Speicherfeld, besondersbevorzugt ein DRAM-Feld.
    [0023] Dieinterne Spannung 214 wird außerdem durch eine elektrischeVerbindung 218 einem Komparator 208 zugeführt. Außerdem istder Anschluss fürdas Prüfgerät 210 elektrischmit dem Komparator 208 verbunden. Um die interne Spannungzu trimmen, wird unter Verwendung eines externen Prüfgeräts 220 eineexterne Sollspannung 222 an den Anschluss für das Prüfgerät 210 angelegt.Die Sollspannung 222 hat einen vorher festgelegten Wert.Die Sollspannung 222 wird dem Komparator 208 zugeführt unddort mit der internen Spannung 214 verglichen. Der Komparator 208 sendetein Vergleichssignal 226 zu der Steuerschal tung 204.Vorzugsweise gibt das Vergleichssignal 226 an, ob die interne Spannung 214 höher, niedrigeroder gleich der Sollspannung 222 ist. Wenn die interneSpannung 214 zu hoch oder zu niedrig ist, justiert dieSteuerschaltung 204 den Spannungsgenerator 202 unterVerwendung der Steuersignale 228 nach. Die an dem Spannungsgenerator 202 vorgenommenenJustierungen werden vorübergehendin einem flüchtigen Speichergespeichert. Solche Speicher sind zum Beispiel SRAM-Schaltungenoder Register, die mit Flipflops implementiert werden. Wenn eineentgültige undausreichende Justierung der Steuersignale gefunden worden ist, kanndiese Justierung permanent in einen nichtflüchtigen Speicher auf dem integrierten Schaltungschipeinprogrammiert werden. Zum Beispiel könnte ein solcher nichtflüchtigerSpeicher mit Laserschmelzelementen, elektrischen Schmelzelementenoder ferroelektrischen Speicherzellen implementiert werden.
    [0024] DieAnordnung zur Selbstjustierung eines Generators umfasst vorzugsweiseeine Steuerung füreinen Prüfmodus 206.Die Steuerung fürden Prüfmodus 206 empfängt vondem externen Prüfgerät 220 einexternes Prüfsignal 226.Nach dem Empfang des externen Prüfsignals 226 sendetdie Steuerung fürden Prüfmodus 206 einPrüfmodussignal 230 zu derSteuerschaltung 204, die dann mit der Justierung des Spannungsgenerators 202 beginnt.
    [0025] DieSteuerschaltung 204 kann die interne Spannung auf vielfältige Weiseeinstellen. Zum Beispiel enthältbei einer Ausführungsformdie Steuerschaltung 204 einen einfachen Binärzähler. Beidieser Ausführungsformbeginnt der Binärzähler zuzählen,wenn die Steuerschaltung 204 das Prüfmodussignal 206 empfängt. JedeBinärzahlstellt eine verschiedene Einstellung dar, die an dem Spannungsgenerator 202 vorgenommenwird. Der Binärzähler kanndann gestoppt werden, wenn die Steuerschaltung 204 einVergleichssignal 226 empfängt, das angibt, dass die interneSpannung 218 mit der Sollspannung 222 übereinstimmt.Bei dieser Ausführungsformwürde dieSteuerschaltung bis zu N2 Schritte zur Einstellungder Spannung des Spannungsgenerators 202 verwenden (mitN = Anzahl von Steuersignalen 228).
    [0026] DieSteuerschaltung 204 kann auch eine Steuerung für eineneingebauten Selbsttest (BIST) enthalten. Die BIST-Steuerung kanndie integrierte Schaltung aktivieren und die Ausführung vonSchaltvorgängenin der integrierten Schaltung veranlassen. Solche Schaltvorgänge sindzum Beispiel Schaltvorgängezum Lesen von Daten, Schaltvorgängezum Schreiben von Daten oder arithmetische Operationen, wie zumBeispiel eine Multiplikation. Die Schaltvorgänge verursachen über dieelektrische Verbindung 216 ein Abfallen der Spannung. Folglich kann derBIST den Betrieb der integrierten Schaltung simulieren. Auf dieseWeise kann die BIST-Steuerung den Einfluss der integrierten Schaltungauf die interne Spannung 214 während der Justierung des Spannungsgenerators 202 berücksichtigen.
    [0027] 3 zeigt eine Ausführungsformeiner Anordnung zur Selbstjustierung eines Generators zum Trimmenmehrerer Spannungen, die von mehreren Spannungsgeneratoren auf einemintegrierten Schaltungschip 300 erzeugt werden. Der integrierteSchaltungschip 300 enthältmehrere interne Spannungen 302. Die internen Spannungenkönnengemäß diesemVerfahren auf einen oder mehrere verschiedene Werte oder auch aufdenselben Wert eingestellt werden. Jede interne Spannung 302 wirddurch eine interne Justierschaltung 304 für die Spannungeingestellt. Jede interne Justierschaltung 304 enthält einen Spannungsgenerator 306,eine Steuerschaltung 308 und einen Komparator 310.Wie mit Bezug auf die in 2 gezeigteAusführungsformbeschrieben, könnendie Spannungsgeneratoren 306 zum Beispiel einen Spannungsteileroder eine Spannungspumpe enthalten, der bzw. die aus einer odermehreren externen Spannungen 312 eine interne Spannung 302 erzeugt.Die internen Spannungen 302 können über elektrische Verbindungen 314 einerintegrierten Schaltung, wie zum Beispiel einem DRAM-Feld, zugeführt werden.
    [0028] Jedeinterne Spannung 302 wird außerdem einem Komparator 310 zugeführt. DieJustierschaltung fürinterne Spannungen 304, die getrimmt werden sollen, umdieselben internen Spannungen 302 zu liefern, können sichdemselben Anschluss fürein Prüfgerät 316 teilen,oder jede Justierschaltung für eineinterne Spannung 304 kann mit ihrem eigenen Anschluss für ein Prüfgerät 316 ausgestattetwerden. Die Anschlüssefür einPrüfgerät 316 sindelektrisch mit Komparatoren 310 der Justierschaltungenfür interneSpannungen 304 verbunden. Um die internen Spannungen zutrimmen, wird unter Verwendung eines externen Prüfgeräts 318 eine externeSollspannung 320 an jeden Anschluss für ein Prüfgerät 316 angelegt. Dieexternen Sollspannungen 320 weisen jeweils einen einerinternen Spannung 314 entsprechenden vorher festgelegtenWert auf. Wie mit Bezug auf das in 2 beschriebeneVerfahren beschrieben, werden die Sollspannungen 320 jeweilseinem Komparator 310 zugeführt und dort mit einer internen Spannung 302 verglichen.Die Komparatoren 310 senden dann ein Vergleichssignal zuden Steuerschaltungen 308. Die Steuerschaltungen 308 justierendie Spannungsgeneratoren 306 gemäß dem Vergleichssignal nach.Die an den Spannungsgeneratoren 306 vorgenommenen Justierungenkönnenauf dieselbe Weise wie mit Bezug auf 2 beschrieben permanentgemacht werden.
    [0029] DieseAnordnung zur Selbstjustierung von Generatoren enthält eineeinzige Steuerung füreinen Prüfmodus 322.Die Steuerung fürden Prüfmodus 322 empfängt einexternes Prüfsignal 324 auseinem externen Prüfgerät 318.Nach dem Empfang des externen Prüfsignals 324 sendetdie Steuerung fürden Prüfmodus 322 einPrüfmodussignal 326 zujeder Steuerschaltung 308, um den Prozess des Justierensder Spannungsgeneratoren 306 einzuleiten.
    [0030] DieseAnordnung zur Justierung von Spannungen ermöglicht eine effiziente Justierungmehrerer Spannungsgeneratoren 306 gleichzeitig. Das gleichzeitigeTrimmen von mehr als einer internen Spannung kann die zum Trimmeneiner integrierten Schaltung erforderliche Zeit verringern.
    [0031] 4 zeigt eine konkrete Ausführungsform dermit Bezug auf 3 beschriebenenAnordnung zur Selbstjustierung von Generatoren. In 4 werden die internen Spannungen 302 derselbenintegrierten Schaltung 400 zugeführt. Bei dieser Ausführungsformwird durch die integrierte Schaltung 400 eine interne Spannung 302 miteiner anderen internen Spannung 302 gekoppelt. Folglichkann sich die Justierung einer internen Spannung 302 aufeine oder mehrere andere interne Spannungen 302 auswirken.
    [0032] Vorzugsweisewerden die Spannungsgeneratoren 306 eingestellt, während dieintegrierte Schaltung 400 aktiv ist. Wenn die integrierteSchaltung ein Speicherfeld, wie zum Beispiel ein DRAM-Feld, umfasst,werden die Spannungsgeneratoren 306 vorzugsweise justiert,währendSchaltvorgängewie zum Beispiel das Lesen von Daten, das Schreiben von Daten, dasVorspannen einer Bank oder ein Auffrischen durchgeführt werden.Indem das gleichzeitige Trimmen mehrerer interner Spannungen 302 ermöglicht wird,währendder Chip aktiv ist, ermöglichtdieses selbstjustierende Verfahren zur Trimmung ein genaueres Trimmender internen Spannungen 302 durch Berücksichtigen von Kopplungseffekten,die zwischen den internen Spannungen 302 eines integriertenSchaltungschips 300 auftreten können.
    [0033] 5 zeigt eine weitere Ausführungsformeiner Anordnung zur Selbsttrimmung eines Spannungsgenerators, dasdie in 3 beschriebeneAnordnung verwendet. In 5 liefertein externes Prüfgerät 318 eineexterne Sollspannung 320 an mehrere integrierte Schaltungschips 300.Zusätzlichwird ein externes Prüfsignal 324 allenintegrierten Schaltungschips 300 zugeführt. Da alle integrierten Schaltungschipstypischerweise auf demselben Satz von Referenzspannungen eingestelltwerden, könnendie durch das externe Prüfgerät erzeugtenexternen Sollspannungen 320 gemeinsam von den integrierten Schaltungschips 300 verwendetwerden. Durch gemeinsame Benutzung des Signals 324 können alle mitdem externen Prüfgerät verbundenenintegrierten Schaltungen das Trimmen ihrer jeweiligen internen Spannungengleichzeitig ausführen.Im Vergleich zu herkömmlichenVerfahren kann folglich die Zeit für das Trimmen verringert werden.Wenn zum Beispiel 20 integrierte Schaltungschips 300 parallelgetrimmt werden, kann die fürdas Trimmen erforderliche Zeit um einen Faktor 20 verringert werden.
    [0034] Dieobige Beschreibung wird angegeben, um es Fachleuten zu ermöglichen,die Erfindung herzustellen und zu verwenden, und sie wird im Kontexteiner konkreten Anwendung und ihrer Anforderungen dargestellt. Fachleutenwerden ohne weiteres verschiedene Modifikationen zu den bevorzugtenAusführungsformeneinfallen, und die hier definierten generischen Prinzipien können aufandere Ausführungsformenund Anwendungen angewandt werden, ohne vom Gedanken und Umfang derErfindung abzuweichen. Die vorliegende Erfindung soll also nicht aufdie gezeigten Ausführungsformenbegrenzt werden, sondern gilt gemäß dem größtmöglichen Umfang, der mit denhier offengelegten Prinzipien und Merkmalen vereinbar ist.
    权利要求:
    Claims (29)
    [1] Integrierter Schaltungschip, umfassend: einenSpannungsgenerator, wobei der Spannungsgenerator eine interne Spannungerzeugt; einen Komparator zum Vergleichen einer extern zugeführten Spannungmit der internen Spannung; und eine Steuerschaltung, die Signalezur Justierung der internen Spannung liefert.
    [2] Integrierter Schaltungschip nach Anspruch 1, derweiterhin ein Speicherfeld umfasst.
    [3] Integrierter Schaltungschip nach Anspruch 2, wobeidas Speicherfeld ein DRAM-Feld ist.
    [4] Integrierter Schaltungschip nach einem der Ansprüche 1 bis3, wobei die Steuerschaltung die Signale zur Justierung der internenSpannung nach dem Empfang eines Signals von dem Komparator, undnachdem die integrierte Schaltung ein Prüfsignal von einer externenQuelle empfangen hat, liefert.
    [5] Integrierter Schaltungschip nach einem der Ansprüche 1 bis4, wobei der Spannungsgenerator eine Spannungspumpe oder ein Spannungsteilerist.
    [6] Integrierter Schaltungschip nach einem der Ansprüche 1 bis5, wobei die Steuerschaltung eine Steuerung für einen eingebauten Selbsttestumfasst, wobei die Steuerung fürden eingebauten Selbsttest die Schaltung aktiviert, während sieSignale zur Justierung der internen Spannung liefert.
    [7] Integrierter Schaltungschip, umfassend: mehrereSpannungsgeneratoren; mehrere Komparatoren zum Vergleichenextern zugeführterSpannungen mit durch die Spannungsgeneratoren erzeugten Spannungen;und eine Steuerschaltung, die Signale zur Justierung der durchdie Spannungsgeneratoren erzeugten Spannungen liefert.
    [8] Integrierter Schaltungschip nach Anspruch 7, wobeidie durch die Spannungsgeneratoren erzeugten Spannungen gleichzeitigdurch die von der Steuerschaltung gelieferten Signale eingestelltwerden.
    [9] Integrierter Schaltungschip nach Anspruch 7 oder8, der weiterhin ein Speicherfeld umfasst.
    [10] Integrierter Schaltungschip nach Anspruch 9, wobeidas Speicherfeld ein DRAM-Feld ist.
    [11] Integrierter Schaltungschip nach einem der Ansprüche 7 bis10, wobei die Steuerschaltung die Signale zur Justierung der durchdie Spannungsgeneratoren erzeugten Spannungen nach dem Empfang einesSignals von mindestens einem der Komparatoren, und nachdem die integrierteSchaltung ein Prüfsignalvon einer externen Quelle empfangen hat, liefert.
    [12] Integrierter Schaltungschip nach einem der Ansprüche 7 bis11, wobei die Spannungsgeneratoren Spannungspumpen oder Spannungsteilersind.
    [13] Integrierter Schaltungschip nach einem der Ansprüche 7 bis12, wobei die Steuerschaltung eine Steuerung für einen eingebauten Selbsttestumfasst, wobei die Steuerung fürden eingebauten Selbsttest eine Schaltung aktiviert, während sieSignale zur Justierung der durch die Spannungsgeneratoren erzeugtenSpannungen liefert.
    [14] Verfahren zur Justierung einer internen Spannungeines integrierten Schaltungschips, mit den folgenden Schritten: Versorgeneines Komparators auf dem integrierten Schaltungschip mit einerexternen Spannnung; Versorgen des Komparators mit einer internenSpannung; Vergleichen der externen Spannung mit der internen Spannung;und Justieren der internen Spannung abhängig von dem Vergleich zwischender internen Spannung und der externen Spannung.
    [15] Verfahren nach Anspruch 14, wobei die integrierteSchaltung ein Speicherfeld umfasst.
    [16] Verfahren nach Anspruch 15, wobei das Speicherfeldein DRAM-Feld ist.
    [17] Verfahren nach einem der Ansprüche 14 bis 16, wobei die interneSpannung justiert wird, wenn der integrierte Schaltungschip einPrüfsignalvon einer externen Quelle empfängt.
    [18] Verfahren nach einem der Ansprüche 14 bis 17, wobei die interneSpannung durch eine Spannungspumpe oder einen Spannungsteiler erzeugt wird.
    [19] Verfahren nach einem der Ansprüche 14 bis 18, wobei der integrierteSchaltungschip eine Steuerung füreinen eingebauten Selbsttest umfasst, wobei die Steuerung für den eingebautenSelbsttest eine integrierte Schaltung aktiviert, während sieSignale zur Justierung der internen Spannung liefert.
    [20] Verfahren zur Einstellung interner Spannungen einesintegrierten Schaltungschips mit den folgenden Schritten: Versorgenmehrerer Komparatoren auf dem integrierten Schaltungschip mit mehrerenexternen Spannungen; Versorgen der Komparatoren mit mehrereninternen Spannungen; Vergleichen der externen Spannungen mitden internen Spannungen; und Variieren der internen Spannungenabhängigvon den Vergleichen zwischen den internen Spannungen und den externenSpannungen.
    [21] Verfahren nach Anspruch 20, wobei die integrierteSchaltung ein Speicherfeld umfasst.
    [22] Verfahren nach Anspruch 21, wobei das Speicherfeldein DRAM-Feld ist.
    [23] Verfahren nach einem der Ansprüche 20 bis 22, wobei die internenSpannungen justiert werden, wenn der integrierte Schaltungschipein Prüfsignal voneiner externen Quelle empfängt.
    [24] Verfahren nach einem der Ansprüche 20 bis 23, wobei der integrierteSchaltungschip eine Steuerung füreinen eingebauten Selbsttest umfasst, wobei die Steuerung für den eingebautenSelbsttest eine integrierte Schaltung aktiviert, während sieSignale zur Justierung der internen Spannungen liefert.
    [25] Verfahren zur Justierung interner Spannungen mehrererintegrierter Schaltungschips mit den folgenden Schritten: Versorgenmehrerer integrierter Schaltungschips mit einer externen Spannung; Erzeugenmehrerer interner Spannungen; Vergleichen der externen Spannungmit den internen Spannungen; und Justieren der internen Spannungenabhängigvon dem Vergleich zwischen der internen Spannung und der externenSpannung.
    [26] Verfahren nach Anspruch 25, wobei die internen Spannungeneingestellt werden, wenn die integrierten Schaltungschips ein Prüfsignalvon einer externen Quelle empfangen, das den integrierten Schaltungschipszugeführtwird.
    [27] Verfahren nach Anspruch 25 oder 26, wobei die integriertenSchaltungschips Speicherfelder umfassen.
    [28] Verfahren nach Anspruch 27, wobei die SpeicherfelderDRAM-Felder sind.
    [29] Verfahren nach einem der Ansprüche 25 bis 28, wobei die integriertenSchaltungschips eine Steuerung füreinen eingebauten Selbsttest umfassen, wobei die Steuerung für den eingebautenSelbsttest eine integrierte Schaltung aktiviert, während sieSignale zur Justierung einer internen Spannung liefert.
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    2008-05-08| 8127| New person/name/address of the applicant|Owner name: QIMONDA AG, 81739 MUENCHEN, DE |
    2011-02-08| R002| Refusal decision in examination/registration proceedings|
    2011-03-01| R006| Appeal filed|
    2011-05-05| R008| Case pending at federal patents court (fpc)|
    2012-12-27| R011| All appeals rejected, refused or otherwise settled|
    2013-03-21| R003| Refusal decision now final|Effective date: 20121227 |
    优先权:
    申请号 | 申请日 | 专利标题
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